紅外測溫?zé)嵯駜x能夠生成紅外圖像或熱輻射圖像，并且能夠提供準(zhǔn)確的非接觸溫度測量功能，幾乎所有物體在發(fā)生故障之前，溫度都會(huì)隨之升高，因此在很多領(lǐng)域內(nèi)，紅外熱像儀是一種經(jīng)濟(jì)有效的檢測工具，由于很多行業(yè)都將生產(chǎn)、能源管理、提高產(chǎn)量和生產(chǎn)安全作為企業(yè)發(fā)展的重要目標(biāo)，因此紅外熱像儀正在被不斷地應(yīng)用在各種行業(yè)和各種應(yīng)用領(lǐng)域中，用紅外熱像儀對各類設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)測，除了要得到良好的紅外圖像，更重要和更具有意義的是要做到準(zhǔn)確的測量，只有準(zhǔn)確的測量，才能準(zhǔn)確地反映設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)，為工藝的改進(jìn)提供可靠的數(shù)據(jù)；也只有準(zhǔn)確的測量，才能避免各類事故的發(fā)生，為各工礦企業(yè)減少不必要的經(jīng)濟(jì)損失，
 

　　在進(jìn)行PCB電路板的溫度測量時(shí)，由于發(fā)射率變化很大，在熱圖中每個(gè)像素必須設(shè)定不同發(fā)射率值，考慮了被測表面的發(fā)射率、反射率(或吸收率)、環(huán)境溫度、大氣溫度、大氣衰減等影響因素，總結(jié)了大氣吸收、大氣溫度、被測物體發(fā)射率、被測物體本身溫度、環(huán)境溫度和測量儀器指示溫度的測量誤差對紅外測溫誤差的影響，著重分析環(huán)境高溫物體對紅外測溫誤差的影響，在科學(xué)實(shí)驗(yàn)研究方面，紅外熱像儀亦顯示出其在測試物體溫度場方面的優(yōu)勢。利用其準(zhǔn)確測試物體的發(fā)射率，都取得了較好的效果。
 

　　紅外測溫?zé)嵯駜x測量物體表面的溫度場分布不僅受到自身參數(shù)(靈敏度、發(fā)射率)設(shè)定正確與否和外界環(huán)境狀態(tài)(如環(huán)境中水蒸氣、二氧化碳及微粒粉塵含量大小、目標(biāo)距離的遠(yuǎn)近等)因素的影響，還要受到內(nèi)部結(jié)構(gòu)、性能老化的影響，如探測器性能退化、數(shù)據(jù)及圖像處理系統(tǒng)電子元件的老化、制冷器性能及制冷介質(zhì)純度等因素的影響，上述諸多影響因素中，參數(shù)設(shè)定和環(huán)境狀態(tài)的影響可以人為的控制和調(diào)節(jié)，但儀器本身結(jié)構(gòu)老化引起的測量誤差很難掌握和控制，因此，定期檢定熱像儀，掌握其準(zhǔn)確程度，并能根據(jù)誤差修正測量結(jié)果，是準(zhǔn)確測量的基本保證。